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日本日置C測試儀 3506-10概述

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

■ BIN功能

C測量根據(jù)測量值樶多分類為14個等級※1，易于進(jìn)行分揀等。 ※1 3506,3505樶多為13個等級。3504-40無BIN功能。

■ 比較器功能

第yi參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。

■ 存儲功能

測量數(shù)據(jù)可保存在主機?？赏ㄟ^GP-IB，RS-232C讀出?！?506-10 ………………………………..1,000個　3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個

■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示

只需從面板標(biāo)記項目中進(jìn)行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會點亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。

■ 觸發(fā)同步輸出功能

施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時將信號施加到被測物上。因為是在接觸被測物時流過大電流，因此能夠減少接點的損耗。

■可存儲99※2組測量條件

樶多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況?？衫肊XT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10樶多為70組。

■標(biāo)配接觸檢查功能

可檢測出測量過程中的接觸錯誤?？闪硗夤芾碛羞^接觸錯誤的樣品，對提高成品率做出貢獻(xiàn)。

日本日置C測試儀 3506-10特點

★ 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
★ 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復(fù)精度
★ 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
★ 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量